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詳細介紹
| 品牌 | TeKtronix/美國泰克 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
為較具挑戰的系統設計提供信號高保真度
當前高速電路使得信號路徑檢定和BER分析的挑戰性進一步提高。由于較高的TDR帶寬、較快速的S參數測量功能及全面支持光學標準測試，DSA8200數字串行分析儀提供了完整的高速物理層測試平臺。
DSA8200采樣示波器概述
功能 | 優點 |
| 最多4個真實差分通道 | 利用真實的差分TDR激勵信號準確地檢測非線性設備，如放大器。 |
| 高帶寬（50 GHz）時域反射儀 | 以12 ps 的入射級將阻抗不連續性分解至 1mm。 |
| 光學模塊噪聲低，光學靈敏度高，擁有消光比校準功能及寬波長。 | 通過一個光學測試解決方案，滿足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要標準。 |
| IConnect® 信號完整性 | 利用集成的TDR和S參數測量減少由測試治具信號降級引起的測量錯誤。 |
| 串行數據網絡分析 (SDNA) | 通過一個儀器進行時域和頻域分析來降低測試成本。準確地分析信號通路以預測信號串擾和抖動，確保可靠的系統運行。 |
| 串行數據鏈路分析 (SDLA) | 通過抖動、噪聲和BER分析確定眼閉的準確原因。通過快速評估各種FE/DFE均衡設置增加接收器的眼睜時間。 |
| 遠程采樣頭 | 通過將TDR頭接近被測試設備來優化信號保真度和減小探頭、電纜及測試治具的影響。 |
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